Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
V. Gopinath, S. Aronowitz, V. Palankovski, S. Selberherr:
"Effects of Stress-Induced Bandgap Narrowing on Reverse-Biased Junction Behavior";
Poster: European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC),
Florence;
24.09.2002
- 26.09.2002; in: "Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)",
(2002),
ISBN: 88-900847-8-2;
S. 631
- 634.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ESSDERC.2002.195010
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2003/CP2002_Palankovski_1.pdf