R. Entner:
"Modeling and Simulation of Negative Bias Temperature Instability";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, G. Magerl; Institut für Mikroelektronik, 2007; Rigorosum: 13.08.2007.
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2007.10123Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/entner