Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
S. E. Tyaginov, V. Sverdlov, W. Gös, T. Grasser:
"Statistics of Si-O Bond-Breakage Rate Variations induced by O-Si-O Angle Fluctuations";
Vortrag: International Workshop on Computational Electronics (IWCE),
Beijing, China;
27.05.2009
- 29.05.2009; in: "Proceedings of the International Workshop on Computational Electronics (IWCE)",
(2009),
ISBN: 978-1-4244-3926-3;
S. 29
- 32.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IWCE.2009.5091156
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2009/CP2009_Tyaginov_2.pdf