Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
T. Grasser, H. Reisinger, W. Gös, T. Aichinger, Ph. Hehenberger, P.-J. Wagner, M. Nelhiebel, J. Franco, B. Kaczer:
"Switching Oxide Traps as the Missing Link Between Negative Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise";
Vortrag: IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM),
Baltimore, MD, USA;
07.12.2009
- 09.12.2009; in: "Proceedings of the IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)",
(2009),
S. 1
- 4.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IEDM.2009.5424235
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2009/CP2009_Grasser_12.pdf