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Microelectronics Reliability, 47 (2007), 4-5; S. 704 - 708.
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2007.01.059Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2006/JB2007_Karner_1.pdf