W. Gös:
"Hole Trapping and the Negative Bias Temperature Instability";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, D. Süss; Institut für Mikroelektronik, 2011; Rigorosum: 22.12.2012.
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2011.25057Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/goes/