Ph. Hehenberger:
"Advanced Characterization of the Bias Temperature Instability";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, M. Gröschl; Institut für Mikroelektronik, 2011; Rigorosum: 14.12.2011.
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2011.24894Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/hehenberger/