A. Makarov, V. Sverdlov, S. Selberherr:
"Emerging Memory Technologies: Trends, Challenges, and Modeling Methods";
Microelectronics Reliability (eingeladen), 52 (2012), 4; S. 628 - 634.
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2011.10.020Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2011/JB2012_Makarov_1.pdf