H. Ceric, R. Orio, S. Selberherr:
"Interconnect Reliability Dependence on Fast Diffusivity Paths";
Microelectronics Reliability (eingeladen), 52 (2012), 8; S. 1532 - 1538.
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2011.09.035Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/JB2012_Ceric_1.pdf