Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
H. Ceric, R. Orio, W. H. Zisser, S. Selberherr:
"Ab Initio Method for Electromigration Analysis";
Vortrag: IEEE Electronics Packaging Technology Conference (EPTC),
Singapore;
02.07.2012
- 06.07.2012; in: "Proceedings of the 19th IEEE International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits",
(2012),
ISBN: 978-1-4673-0982-0;
4 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/IPFA.2012.6306306
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/CP2012_Ceric_1.pdf