M. Toledano-Luque, B. Kaczer, J. Franco, Ph. J. Roussel, T. Grasser, G. Groeseneken:
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Microelectronics Reliability, 52 (2012), 9-10; S. 1883 - 1890.
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2012.06.120Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2012/JB2012_Grasser_1.pdf