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Dissertationen (eigene und begutachtete):
O. Triebl:
"Reliability Issues in High-Voltage Semiconductor Devices";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, M. Gröschl; Institut für Mikroelektronik, 2012; Rigorosum: 24.10.2012.

"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2012.27576
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/triebl/