F. Schanovsky:
"Atomistic Modeling in the Context of the Bias Temperature Instability";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, A. Schenk; Institut für Mikroelektronik, 2013; Rigorosum: 19.03.2013.
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2013.28781Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/schanovski/