S. E. Tyaginov:
"Physics-Based Modeling of Hot-Carrier Degradation";
in: "Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices", T. Grasser (Hrg.); Springer International Publishing, 2015, ISBN: 978-3-319-08993-5, S. 105 - 150.
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-08994-2_4Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2014/BC2014_Tyaginov_1.pdf