W. H. Zisser:
"Electromigration in Interconnect Structures";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, M. Kaltenbacher; Institut für Mikroelektronik, 2016; Rigorosum: 21.06.2016.
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2016.37905Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/zisser/