G. Rzepa:
"Efficient Physical Modeling of Bias Temperature Instability";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, L. Larcher, F. Crupi; Institut für Mikroelektronik, 2018; Rigorosum: 27.06.2018.
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2018.57326Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/rzepa/