B. Ullmann:
"Mixed Negative Bias Temperature Instability and Hot-Carrier Stress";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, J. Schmitz, S. Reggiani; Institut für Mikroelektronik, 2018; Rigorosum: 28.06.2018.
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2018.57328Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/phd/ullmann/