A. Grill, B. Stampfer, K.-S. Im, J. Lee, C. Ostermaier, H. Ceric, M. Waltl, T. Grasser:
"Electrostatic Coupling and Identification of Single-Defects in GaN/AlGaN Fin-MIS-HEMTs";
Solid-State Electronics, 19 (2019), 156; S. 41 - 47.
http://dx.doi.org/10.1016/j.sse.2019.02.004Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2019/JB2019_Grill_1.pdf