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Publikationsliste für Angehörige von
E362 - Institut für Festkörperelektronik
als Autorinnen / Autoren bzw. wesentlich beteiligte Personen
Berichte
1996 - 2024

44 Datensätze


Wissenschaftliche Berichte


  1. H. D. Wanzenböck:
    "3-dimensionale NIL Master und Abformung von 3D-Fresenl-Linsen";
    2014; 10 S.

  2. S. Lindsey, G. Hobler, C. Rue, M. Maazouz:
    "Focused Ion Beam Simulation - Investigation of the Curtaining Effect in TEM Sample Preparation";
    2012.

  3. H. D. Wanzenböck:
    "Progress report of Vienna University of Technology 3rd year (Oct. 2011 - Sept. 2012)";
    2012; 10 S.

  4. H. D. Wanzenböck:
    ""ENHANCE" - Midterm Review of the Marie-Curie International Training Network";
    2011.

  5. H. D. Wanzenböck:
    "NILaustria_I - Final Projekt report of the NILaustria programme of the Austrian Nanoinitiative";
    2011.

  6. H. D. Wanzenböck:
    "NILaustria_I - M36-Report (Project report of Month 36 of the NILaustria programme of the Austrian Nanointiative";
    2011.

  7. H. D. Wanzenböck:
    "WireCat";
    Bericht für FWF; 2011.

  8. T. Zahel, G. Hobler:
    "IMSIL-kLMC";
    2009.

  9. T. Zahel, G. Hobler:
    "Kinetic Monte Carlo studies of Smart Cut technology in Si: Final report";
    2009.

  10. P. Beck, G. Hobler, A. Köck, S. Rollet, E. Wachmann, M. Wind:
    "RADSI - Radiation Hardness of Silicon Nanostructures, Technical final report";
    2008.

  11. J. Kuzmik:
    "Final activity report";
    2008.

  12. J. Kuzmik:
    "Ultragan 3nd annual activity report";
    2008.

  13. H. D. Wanzenböck:
    "NextGen-FEBIP - Jahresbericht";
    Bericht für Carl Zeiss NTS; 2008.

  14. H. D. Wanzenböck:
    "NextGen-FEBIP - Zwischenbericht";
    Bericht für Carl Zeiss NTS; 2008.

  15. T. Zahel, G. Hobler:
    "Kinetic Monte Carlo studies of Smart Cut technology in Si: Platelet model and influence of He damage on platelet formation";
    2008.

  16. T. Zahel, G. Hobler:
    "Kinetic Monte Carlo studies of Smart Cut technology in Si: The influence of He damage on defects generated by H and He co-implantation";
    2008.

  17. A.M. Andrews, A. Benz, G. Fasching, C. Deutsch, M. Austerer, W. Schrenk, K. Unterrainer, G. Strasser:
    "Non-linear optics and photonics in quantum cascade lasers";
    Bericht für Physics of InterSubband Emitters (POISE); 2007; 11 S.

  18. A.M. Andrews, A. Benz, G. Fasching, C. Deutsch, M. Austerer, W. Schrenk, K. Unterrainer, G. Strasser:
    "Physics of InterSubband Emitters (POISE) 36-Month Report: Vienna University of Technology Contribution";
    Bericht für Physics of InterSubband Emitters (POISE); 2007; 11 S.

  19. P. Beck, G. Hobler, E. Wachmann:
    "RADSI Progress Report";
    2007.

  20. G. Hobler:
    "IMSIL Code Modification and Calibration for H inplantations into GaN";
    2007.

  21. G. Hobler, D. Kovac:
    "Interim Report on FIBSIM Code Development";
    2007.

  22. G. Hobler, T. Zahel:
    "Kinetic Monte Carlo studies of Smart Cut technology in Si";
    2007.

  23. J. Kuzmik, D. Pogany:
    "Ultragan 2nd annual activity report";
    2007.

  24. J. Kuzmik, D. Pogany:
    "ULTRAGAN contractual Deliverable D3.1: Insulated gate InAlN/GaN HEMT";
    2007.

  25. J. Kuzmik, D. Pogany:
    "ULTRAGAN contractual Deliverable D3.2: Passivated InAlN/GaN HEMT";
    2007.

  26. J. Kuzmik, D. Pogany:
    "Ultragan contractual Deliverable D4.2: Thermal condcutivity measurement results on InAlN materials";
    2007.

  27. J. Kuzmik, D. Pogany:
    "Ultragan contracutal Deliverable D5.2: Report on preliminary evaluation on the breakdown mechanisms";
    2007.

  28. D. Pogany:
    "Final SIDRA Medea + projekt report to FFG";
    2007.

  29. D. Pogany:
    "Report on ESD measurements by TIM to AMIS";
    2007.

  30. D. Pogany:
    "Report on ESD measurements by TIM to Atmel";
    2007.

  31. D. Pogany:
    "Report on ESD measurements by TIM to LAAS";
    2007.

  32. D. Pogany:
    "Report on ESD measurements by TIM to NXP (SIDRA)";
    2007.

  33. D. Pogany:
    "Report on ESD measurements by TIM to Texas Instruments";
    2007.

  34. D. Pogany:
    "Report on latch-up TIM measurements for ZETEX";
    2007.

  35. D. Pogany:
    "Report on TIM thermal measurements to IMS/NXP";
    2007.

  36. D. Pogany:
    "Reports on TIM measurements of ESD protection devices to Infineon";
    2007.

  37. F.F. Schrey, G. Fasching, A. Müller, G. Strasser, K. Unterrainer:
    "Ultrafast spectroscopy of QD structures for mid-infrared applications";
    Bericht für The Society for Microelectronics - Annual Report 2006; 2006; 4 S.

  38. S. Abermann, W. Brezna, J. Smoliner, E. Bertagnolli, E. Gornik:
    "SINANO-12 month progress report";
    2005; 5 S.

  39. E. Bertagnolli, H. D. Wanzenböck, M. Fischer, G. Hochleitner:
    "Projektbericht FEB-CVD";
    2005; 42 S.

  40. W. Boxleitner, G. Hobler:
    "High Quality Sample Operation for Nanometric Analysis and Testing Equipments";
    2000.

  41. E. Gornik, D. Pogany, C. Fürböck:
    "Report on failure analysis of semiconductor devices";
    2000.

  42. E. Gornik, D. Pogany, C. Fürböck, M. Litzenberger:
    "Endbericht für Ministery Projekt";
    2000.

  43. E. Gornik, D. Pogany, C. Fürböck, M. Litzenberger:
    "New characterisation methods for development of ESD protection structures";
    2000.

  44. P.O. Kellermann, E. Gornik:
    "Oberflaechenemittierende monomodige Laserdioden bei 650nm mit postepitaktischer Wellenlaengenadjustierung";
    2000.