M. Kampl:
"Investigating Hot-Carrier Effects using the Backward Monte Carlo Method";
Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Kosina, A. Garcia Loureiro, G. Hobler; Institut für Mikroelektronik, 2019; Rigorosum: 05.04.2019.
http://dx.doi.org/10.34726/hss.2019.65003Elektronische Version der Publikation:
https://www.iue.tuwien.ac.at/phd/kampl/