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Publikationsliste für Angehörige von
E362 - Institut für Festkörperelektronik
als Autorinnen / Autoren bzw. wesentlich beteiligte Personen
Dissertationen
1996 - 2019

156 Datensätze


Dissertationen (eigene und begutachtete)


  1. S. Lancaster:
    "Growth and characterisation of III-V nanowire heterostructures integrated on Si";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, L.R. Wilson, A. Lugstein; E362, 2019; Rigorosum: 17.04.2019.

  2. M. Kampl:
    "Analyse und Vergleich der Primärregelleistungserbringung durch kleine Regelzonen";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Kosina, A. Garcia Loureiro, G. Hobler; E360, 2019; Rigorosum: 05.04.2019.

  3. C Koller:
    "The Role of Carbon in Creating Insulating Behavior in GaN-on-Si Buffers: A Physical Model";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): D. Pogany, T. Grasser, T. Uren; E362, 2019; Rigorosum: 22.01.2019.

  4. S. Glassner:
    "Tuning the optical properties of silicon nanowires by ultra-high strain and plasmonic coupling";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): A. Lugstein, E. Bertagnolli, R. Rurali; E362, 2018; Rigorosum: 27.11.2018.

  5. A. Grill:
    "Charge Trapping and Single-Defect Extraction in Gallium-Nitride Based MIS-HEMTs";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, G. Meneghesso, D. Pogany; E360, 2018; Rigorosum: 22.10.2018.

  6. M. Rigato:
    "ESD experiments and simulations on RF CMOS switches";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): D. Pogany, G. Meneghesso, G Groeseneken; E362, 2018; Rigorosum: 22.10.2018.

  7. J. Kaur:
    "Solar cells with electrodeposited cuprous oxide absorber and atomic layer deposited zinc-magnesium-oxide buffer";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, A. Köck, G. Trimmel; E362, 2018; Rigorosum: 11.07.2018.

  8. M. Holzbauer:
    "Quantum Cascade Interband and Intersubband Ring Lasers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer, G. Strasser; E362, 2018; Rigorosum: 14.06.2018.

  9. C. Zimmermann:
    "Physikalische und elektrische Charakterisierung von ALD-gewachsenen High-k Dielektrika in Germanium-basierten Schottky-Barrieren pMOSFET Bauelementen";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, A. Köck, U. Schmid; E362, 2018; Rigorosum: 16.04.2018.

  10. C. Fleury:
    "Behavior of silicon and gallium nitride devices under electrical overstress conditions";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): D. Pogany, M. Bafleur, G. Meneghesso; E362, 2018; Rigorosum: 25.01.2018.

  11. I. Khan:
    "Light Management in Organic Photovoltaic Solar Cells";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, M. Scharber; E362, 2017; Rigorosum: 12.12.2017.

  12. P. Pertl:
    "Nucleation and Growth of Germanium Nanostructures using Unusual Metal Seeds";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Barth, A. Lugstein; Institut für Materialchemie E-165, 2017; Rigorosum: 11.12.2017.

    Zusätzliche Informationen

  13. H. Keshmiri:
    "Loss mitigation in binary-sequenced plasmonic waveguides";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, A. Lugstein; E362, 2017; Rigorosum: 18.10.2017.

  14. A. Harrer:
    "Quantum Cascade Intersubband Devices for Mid-Infrared Sensing";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, S. Höfling, T. Fromherz; E362, 2017; Rigorosum: 31.05.2017.

  15. T. Zederbauer:
    "Mixed group V compound semiconductors for intersubband devices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, Z. Wasilewski, A. Rastelli; E362, 2017; Rigorosum: 22.05.2017.

  16. R. Szedlak:
    "On the Light Emission from Ring Quantum Cascade Lasers and their Application in Spectroscopic Sensing";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, M. Helm; E362, 2017; Rigorosum: 05.05.2017.

  17. D. Bachmann:
    "Broadband terahertz quantum cascade lasers: Time-resolved spectroscopy, pulse generation and amplification";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer, A. Tredicucci, G. Strasser; E387, 2017; Rigorosum: 20.01.2017.

  18. H. Moser:
    "Development and implementation of an industrial process gas monitoring system for H2S based on mid-infrared quantum cascade laser spectroscopy";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): B. Lendl, G. Strasser; Institut für chemische Technologien und Analytik, 2016; Rigorosum: 13.12.2016.

    Zusätzliche Informationen

  19. B. Lutzer:
    "Schottky Barrier MOSFETs with Atomic Layer Grown High-K Oxides and Ultrathin Metal-Interlayers on Silicon (111)";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, C. Eisenmenger-Sittner; E362, 2016; Rigorosum: 18.10.2016.

  20. M. Glaser:
    "III-V / Silicon Nanowire Heterostructures: Exploration of a Novel Processing Approach, Characterization and Implementation in Nanoscale Optoelectronic Devices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): A. Lugstein, C. Ronning; E362, 2016; Rigorosum: 26.01.2016.

  21. A. Pospischil:
    "Generation and detection of light in two-dimensional materials";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer, R. Bratschitsch; E387, 2016; Rigorosum: 25.01.2016.

  22. D. Sticker:
    "Development of thiol-ene epoxy thermoset microdevices with automated fluid handling and nanolayer passivated microstructured impedimentric sensor for in vitro cell-based assays";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, D. Pum; E362, 2015; Rigorosum: 15.12.2015.

  23. B. Schwarz:
    "Monolithic integration of mid-infrared photonics";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, B. Mizaikoff; E362, 2015; Rigorosum: 27.11.2015.

  24. K. Winkler:
    "Exploration of the Anomalous Piezoresistive Effect in VLS grown Si Nanowires";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): A. Lugstein, S. Barth; Institut für Festkörperelektronik, 2015; Rigorosum: 18.11.2015.

  25. M. Capriotti:
    "GaN-based E-mode Metal Insulator Heterostructure Field Effect Transistor";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, G. Meneghesso; E362, 2015; Rigorosum: 21.10.2015.

  26. P. Reininger:
    "Quantum Cascade Photodetectors: Combining Optical and Electronic Engineering";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, J. Faist; E362, 2015; Rigorosum: 07.09.2015.

  27. M. Shawrav:
    "Additive and subtractive direct writing of nanodevices: A high purity approach for gold and germanium using focused electron beam";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, J. De Teresa; E362, 2015; Rigorosum: 28.08.2015.

  28. J. Mika:
    "Universelle mikroelektronische Messplattform zur in vitro Untersuchung von Aktionspotentialen von sich regenerierenden Neuriten unter Einfluss des Neurotrophins "Nerve Growth Factor b"";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, P. Scholze; E362, 2015; Rigorosum: 21.07.2015.

  29. S. Wagesreither:
    "Strain Engineering in Intrinsic Silicon Nanowires using MEMS Devices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): A. Lugstein, A. Köck; E362, 2015; Rigorosum: 26.06.2015.

  30. D. Ristanic:
    "Optoelectronics Integration: On-Chip Infrared Sensors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, T. Fromherz; E362, 2015; Rigorosum: 27.05.2015.

  31. C. Zeiner:
    "Germanium Nanowire Heterostructures and Devices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, T. Baron; E362, 2015; Rigorosum: 26.03.2015.

  32. S. Lindsey:
    "Computer Simulation of FIB Sputtering";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Hobler, P. Pichler; E362, 2015; Rigorosum: 17.03.2015.

  33. W. Molnar:
    "Sub-eutectic synthesis of epitaxial Si-nanowires using octachlorotrisilane as precursor";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, R. Haubner; E362, 2015; Rigorosum: 21.01.2015.

  34. R. Gansch:
    "Photonic Crystals as Resonant Cavities for Photodetectors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, F.H. Julien; E362, 2014; Rigorosum: 04.11.2014.

  35. P. Lagger:
    "Physics and Characterization ofthe Gate Stack in Gallium Nitride based MIS-HEMTs";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): D. Pogany, P. Hadley; E362, 2014; Rigorosum: 16.09.2014.

  36. G. Ehrentraut:
    "Entwicklung und Modellierung von magnetfeldunterstützten reaktiven Ionen-Ätzprozessen (MERIE) an einem Parallelplattenreaktor zur Erzeugung von ausgedehnten Grabenstrukturen für vertikale Silizium-Leistungstransistoren mittels statistischem Experimente-Design";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, U. Schmid; E362, 2014; Rigorosum: 26.06.2014.

  37. M. Gavagnin:
    "Direct writing of ferromagnetic materials by focused electron beam: a novel nanofabrication access for 3-dimensional nanomagnet logic";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, J. Fidler; E362, 2014; Rigorosum: 24.06.2014.

  38. S. Ahn:
    "Mid-infrared quantum cascade lasers: Asymmetric cavity engineering";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, M. Helm; E362, 2014; Rigorosum: 25.04.2014.

  39. A. Alexewicz:
    "GaN-based heterostructures for normally-off high electron mobility transistors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, S. Delage; E362, 2014; Rigorosum: 25.04.2014.

  40. R. Langegger:
    "Advanced Nanopattern Formation b FIB Induced Self Organized Processes";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, F. Aumayr; E362, 2014; Rigorosum: 20.03.2014.

  41. J.M. Greil:
    "Tuning the electrical and optical properties of VLS grown Germanium nanowires by strain";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, T. Baron; E362, 2014; Rigorosum: 19.02.2014.

  42. C. Schwarzer:
    "Advanced Quantum Cascade Ring Lasers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, B. Lendl; E362, 2014; Rigorosum: 27.01.2014.

  43. S. Steinhauer:
    "Gas Sensing Properties of metal oxide nanowires and their CMOS integrations";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, A. Köck; Festkörperelektronik, 2014.

  44. G. Cataldo Mutinati:
    "3D-CMOS Integrable Gas Sensor Device Based on Nanocrystalline Tin Dioxide Films";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, A. Köck; E362, 2013; Rigorosum: 22.11.2013.

  45. S. Waid:
    "3D Nanoimprint Template Generation and Defect Engineering by Focused Ion Beam Direct Write Technologies";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, W. Grogger; E362, 2013; Rigorosum: 19.09.2013.

  46. M. Madl:
    "Scanning Probe Methods for Electrooptical Studies on Semiconductor Nanostructures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, C. Eisenmenger-Stittner; E362, 2013; Rigorosum: 21.06.2013.

  47. A. Avdic:
    "High Resolution Multichannel Scanning Probes for Combined AFM, SECM and ECS-AFM Imaging and Local Gas-Pressure Determination";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, B. Gollas; E362, 2013; Rigorosum: 15.03.2013.

  48. S. Kalchmair:
    "Photonic and electromagnetic crystal structures in intersubband photodetectors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, H. Schneider; E362, 2012; Rigorosum: 29.06.2012.

  49. I. Humer:
    "Material Characterization and Dopant Profiling in Scanning Microwave Microscopy";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, G. Friedbacher; E362, 2012; Rigorosum: 23.05.2012.

  50. W. Mamanee:
    "Investigation of current filament behavior in smart power technology ESD protection devices subjected to long ESD-like pulses";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): D. Pogany, N. Nolhier; E362, 2012; Rigorosum: 30.03.2012.

  51. J. Silvano de Sousa:
    "Spin Dependent Electron Transport in InGaAs/GaAsSb Heterostructures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, U. Hohenester; E362, 2012; Rigorosum: 29.02.2012.

  52. M. Heer:
    "Semiconductor devices and integrated circuits under short electrical stress";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): D. Pogany, M. Bafleur; E362, 2012; Rigorosum: 01.02.2012.

  53. N. Jährling:
    "Applications of ultramicroscopy th neurobiology and methodological improvements";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): R. Weiler, H. Dodt; Universität Oldenburg, 2011; Rigorosum: 30.11.2011.

  54. G. Hochleitner:
    "Investigation of electron-beam-induced chemical vapor deposition of iron and gold nanostructures in a low pressure chamber of a differentially pumped scanning electron microscope";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, C. Eisenmenger-Sittner; E362, 2011; Rigorosum: 30.06.2011.

  55. M. Nobile:
    "Intersubband devices based on the InGaAs/GaAsSb heterostructure operating in the midinfrared";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, C. Sirtori; E362, 2011; Rigorosum: 28.06.2011.

  56. H. Detz:
    "Epitaxy of InGaAs/GaAsSb Heterostructures for Intersubband Optoelectronics";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, R. Colombelli; E362, 2011; Rigorosum: 30.05.2011.

  57. P. Rödiger:
    "A non-destructive, direct-write focused electron beam induced etching process for semiconductors featuring nanometer precision";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, C. Eisenmenger-Sittner; E362, 2011; Rigorosum: 03.05.2011.

  58. C. Eckhardt:
    "Analytische Untersuchung mit computerunterstützten Simulationsmodellen auf modernen Halbleitermaterialien im Nanobereich";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, P. Pongratz; E384, 2011; Rigorosum: 14.02.2011.

  59. C. Ostermaier:
    "Ultra-Thin InAIN/AIN Barrier Enhancement-Mode High Electron Mobility Transistors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, N. Grandjean; E362, 2011; Rigorosum: 03.02.2011.

  60. T. Burchhart:
    "Synthesis and investigation of gallium-implanted, omega-gated germanium nanowire Schottky barrier MOSFETs with self-aligned, atomically sharp Cu3Ge contacts";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, H. Brückl; E362, 2011; Rigorosum: 18.01.2011.

  61. C. Henkel:
    "Atomic Layer Deposited High-k Metal Oxides for Schottky-Barrier MOSFET Devices on (100)-Germanium and (100)-Silicon Substrates";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, C. Eisenmenger-Sittner; E362, 2010; Rigorosum: 07.12.2010.

  62. A. Podgaynaya:
    "Improvement of Safe Operating Area of Power DMOS Transistors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik, F. Schäffler; E362, 2010; Rigorosum: 28.10.2010.

  63. C. Ebm:
    "Simulation of ion beam induced etching and deposition";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Hobler, J. Melngailis; E362, 2010; Rigorosum: 17.09.2010.

  64. O. Bethge:
    "Atomic Layer Deposition of High-k Transition Metal Oxides on (100)-Germanium and (100)-Silicon for Nanoscled MOSFET Devices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, A. Köck; E362, 2010; Rigorosum: 01.09.2010.

  65. T. Uhrmann:
    "Evaluation of sputter-deposited MgO-based tunneling diodes for silicon spintronics";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, C. Eisenmenger-Sittner; E362, 2010; Rigorosum: 21.05.2010.

  66. I. Vasiljevich:
    "Design, Development and Testing of a Highly Integrated and Up-Scalable FEEP-Multi-emitter using Indium as Propellant";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, P. Pongratz; E362, 2010; Rigorosum: 06.05.2010.

  67. E. Mujagic:
    "Ring Cavity Surface Emitting Semiconductor Lasers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, J. Faist; E362, 2010; Rigorosum: 08.04.2010.

  68. A. Benz:
    "Terahertz Quantum-Cascade Lasers: Carrier Transport and Photonic Crystal Cavities";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer, G. Bauer; Institut für Photonik, 2009; Rigorosum: 15.12.2009.

  69. A. Zima:
    "Entwicklung hochsensitiver Nano-Gassensoren basierend auf nanokristallinen Zinndioxid-Schichten und einkristallinen Zinndioxid-Nanodrähten / Development of highly sensitive nano-gassensors based on nanocrystalline tin dioxide thin films and single-crystalline tin dioxide nanowires";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): A. Köck, E. Bertagnolli; Institut für Festkörperelektronik, 2009; Rigorosum: 02.12.2009.

  70. T. Zahel:
    "Modelling defect formation and evolution during SOI wafer fabrication";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Hobler, H. Cerva; Institut für Festkörperelektronik, 2009; Rigorosum: 02.11.2009.

  71. Y.J. Hyun:
    "Synthesis of Silicon Nanowires and Characterization using TEM Methods";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, P. Pongratz; Institut für Festkörperelektronik, 2009; Rigorosum: 08.07.2009.

  72. G. Pozzovivo:
    "InAlN/GaN Heterostructure High Electron Mobility Transistors: Technology, Properties, and Characterization";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, F.H. Julien; Institut für Festkörperelektronik, 2009; Rigorosum: 15.05.2009.

  73. S. Schartner:
    "Optical Cavities for Mid-Infrared Devices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, K. Unterrainer; Institut für Festkörperelektronik, 2009; Rigorosum: 04.03.2009.

  74. L. Hoffmann:
    "Coherent coupling of mid-infrared quantum cascade lasers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, G.A. Reider; Institut für Festkörperelektronik, 2009; Rigorosum: 03.03.2009.

  75. M. Steinmair:
    "Synthesis and electrical characterization of silicon nanowires";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, C. Eisenmenger-Sittner; Institut für Festkörperelektronik, 2008; Rigorosum: 14.11.2008.

  76. W. Yan:
    "Operational amplifier design in advanced CMOS technologies";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Zimmermann, E. Bertagnolli; Institut für Mess- und Schaltungstechnik, 2008; Rigorosum: 06.11.2008.

  77. M. Coquelin:
    "Resonant plasmon and subband excitation in heterostructures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik, K. Unterrainer; Institut für Festkörperelektronik, 2008; Rigorosum: 22.07.2008.

  78. M. Austerer:
    "Nonlinear Light Generation in GaAs Quantum Cascade Lasers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, G.A. Reider; Institut für Festkörperelektronik, 2008; Rigorosum: 03.07.2008.

  79. C. Schöndorfer:
    "Focused Ion Beam induces Synthesis of Nanowires";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, C. Eisenmenger-Sittner; Institut für Festkörperelektronik, 2008; Rigorosum: 25.06.2008.

  80. M. Schramböck:
    "Growth and processing of III-V semiconductor nanostructures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, K. Unterrainer; Institut für Festkörperelektronik, 2008; Rigorosum: 08.05.2008.

  81. S. Özcan:
    "Ballistic Electron Emission Microscopy/Spectroscopy on Metal-Organic-Semiconductor Heterostructures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, K. Schwarz; Institut für Festkörperelektronik, 2008; Rigorosum: 05.04.2008.

  82. M. Wagner:
    "Simulation of Thermoelectric Devices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007; Rigorosum: 18.12.2007.

  83. B. Goll:
    "Clocked, Regenerative Comparators in Deep-Sub-Micron CMOS";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Zimmermann, E. Bertagnolli; Institut für Elektrische Mess- und Schaltungstechnik, 2007; Rigorosum: 12.11.2007.

  84. M. Pourfath:
    "Numeric Study of Quantum Transport in Carbon Nanotube-Based Transistors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Kosina, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007; Rigorosum: 03.07.2007.

  85. S. Abermann:
    "High-k/metal-gate devices for future CMOS technology,";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, Ch. Teichert; Institut für Festkörperelektronik, 2007; Rigorosum: 21.06.2007.

  86. C. Pacher:
    "Engineering of Electronic Properties of Finite Periodic Quantum Structures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik, R. Dirl; Institut für Festkörperelektronik, 2007; Rigorosum: 06.06.2007.

  87. D. Kovac:
    "Multiscale Modeling of Ion Implantation Damage in Silicon";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Hobler, L. Palmetshofer; Institut für Festkörperelektronik, 2007; Rigorosum: 24.04.2007.

  88. J. Kröll:
    "High performance terahertz time-domain spectroscopy: Application, control and amplification of few cycle terahertz radiation";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer, J. Smoliner; Institut für Photonik, 2007; Rigorosum: 24.04.2007.

  89. E. Ungersböck:
    "Advanced Modeling of Strained CMOS Technology";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Kosina, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2007; Rigorosum: 23.04.2007.

  90. H. Kim:
    "Design, simulation and fabrication of micro/nano functional structures using ION beams";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Hobler, H. Kosina; Institut für Festkörperelektronik, 2007; Rigorosum: 20.04.2007.

  91. R. Wittmann:
    "Miniaturization Problems in CMOS Technology: Investigation of Doping Profiles and Reliability";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2007; Rigorosum: 27.02.2007.

  92. J. Sturm:
    "Photodiode Modeling and Optoelectronic Integrated Circuits for Optical-Data-Storage Applications";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Zimmermann, E. Bertagnolli; Institut für Elektrische Mess- und Schaltungstechnik, 2006; Rigorosum: 27.09.2006.

  93. S. Golka:
    "Dry-etched intersubband devices for near- and mid-infrared optoelectronics";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, K. Unterrainer; Institut für Festkörperelektronik, 2006; Rigorosum: 15.09.2006.

  94. A. Nemecek:
    "Integrated Optical Distance Measurement Sensors Based on Advanced PIN-Photodiode Technology";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Zimmermann, E. Bertagnolli; Institut für Elektrische Mess- und Schaltungstechnik, 2006; Rigorosum: 15.09.2006.

  95. G. Fasching:
    "Microcavity terahertz quantum-cascade lasers and single quantum dot microdevices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer, E. Gornik; Institut für Photonik, 2006; Rigorosum: 18.07.2006.

  96. W. Friza:
    "Plasmaätzen von Siliziumgräben mit extrem hohen Aspektverhältnissen: Grundlagen, Effekte, grundlegende Untersuchungen";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): W. Fallmann, E. Bertagnolli; Institut für Sensor- und Aktuatorsysteme, 2006; Rigorosum: 05.07.2006.

  97. F. Schrey:
    "High Resolution und Ultrafast Time-Domain Optical Spectroscopy of Self-Assembled Indium Arsenide Quantum Dots";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer, A. Scrinzi; Institut für Photonik, 2006; Rigorosum: 19.06.2006.

  98. M. Blaho:
    "Experimental Characterisation of Smart Power Technology Devices Stressed by High Energy Pulses";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik, E. Langer; Institut für Festkörperelektronik, 2005; Rigorosum: 03.10.2005.

  99. S. Wagner:
    "Small-Signal Device and Circuit Simulation";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Grasser, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2005; Rigorosum: 22.04.2005.

  100. W. Brezna:
    "Scanning Capacitance Microscopy/Spectroscopy on Semiconductors and Related Materials";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, G. Friedbacher; Institut für Festkörperelektronik, 2005.

  101. V. Dubec:
    "Advanced optical interferometric methods for nanosecond mapping of semiconductor devices under high energy pulses";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik, G.A. Reider; Institut für Festkörperelektronik, 2005.

  102. J. Leeb:
    "DVD-OEIC´s with Two-Stage Amplifiers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Zimmermann, E. Bertagnolli; Institut für Elektrische Mess- und Schaltungstechnik, 2005.

  103. G. Otto:
    "Multi-method Simulations and Transmission Electron Microscope Investigations of Ion Implantation Damage in Silicon";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Hobler, P. Pongratz; Institut für Festkörperelektronik, 2005.

  104. K. O´Keeffe:
    "Control of atomic photoionization with the carrier envelope phase of few-cycle laser pulses";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): M. Lezius, G. Strasser; Institut für Photonik, 2005.

  105. C. Pflügl:
    "Quantum Design of mid-infrared semiconductor lasers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): G. Strasser, K. Unterrainer; Inst. f. Festkörperelektronik, 2005.

  106. A. Schwarzhans:
    "ALPS (Advanced Lens Polishing System) Konzeptstudie zur deterministischen Fertigung von Bauteilen in optischer Qualität";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): A. Köck, J. Smoliner; Institut für Festkörperelektronik, 2005.

  107. J.M. Park:
    "Novel Power Devices for Smart Power Applications";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2004; Rigorosum: 07.12.2004.

    Zusätzliche Informationen

  108. T. Ayalew:
    "SiC Semiconductor Devices Technology, Modeling and Simulation";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2004; Rigorosum: 26.02.2004.

    Zusätzliche Informationen

  109. M. Lenner:
    "Interaction of Intense Femtosecond Laser Pulses with Absorbing Materials";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): C. Spielmann, G. Strasser; Institut für Photonik, 2004.

  110. T. Müller:
    "Ultrafast Terahertz Response of Optically Excited Quantum Semiconductor Structures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer, F. Krausz; Institut für Festkörperelektronik, 2004.

  111. D. Rakoczy:
    "Ballistic Electron Emission Microscopy/Spectroscopy on III-V Semiconductor Heterostructures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, M. Krammer; Institut für Festkörperelektronik, 2004.

  112. K. Schneider:
    "Burst-Mode Receivers for Passive Optical Networks";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Zimmermann, E. Bertagnolli; Institut für Elektrische Mess- und Schaltungstechnik, 2004.

  113. S. Smirnov:
    "Physical Modeling of Electron Transport in Strained Silicon and Silicon-Germanium";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Kosina, K. Unterrainer; Institut für Mikroelektronik, 2003; Rigorosum: 17.12.2003.

  114. A. Gehring:
    "Simulation of Tunneling in Semiconductor Devices";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2003; Rigorosum: 05.12.2003.

  115. R. Rodriguez-Torres:
    "Three-Dimensional Simulation of Split-Drain MAGFETs";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2003; Rigorosum: 13.05.2003.

  116. C. Fabian:
    "Multi-electron dynamics in matter exposed to strong laser fields";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Brabec, K. Unterrainer; Institut für Photonik, 2003.

  117. S. Harasek:
    "Zirkoniumdioxid-Dünnfilme als hoch- e Gateisolatoren für die Siliziumtechnologie";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, G. Fafilek; Institut für Festkörperelektronik, 2003.

  118. V. Iakovlev:
    "Extremely short light pulses: generation, diagnostics and applications";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): A. Scrinzi, K. Unterrainer; Institut für Photonik, 2003.

  119. M. Kast:
    "High-Resolution Hot-Electron Spectroscopy";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik, W. Fallmann; Institut für Festkörperelektronik, 2003.

  120. H. Langfischer:
    "Focused Ion Beam basierte Metallisierung für sub-10nm-Bauelemente";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, W. Fallmann; Institut für Festkörperelektronik, 2003.

  121. M. Litzenberger:
    "Investigation of Internal Behavior in CMOS ESD Protection Devices under High Current Stress";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik, G.A. Reider; Institut für Festkörperelektronik, 2003.

  122. G. Steinlesberger:
    "Scaling Limits of Copper Damascene Lines for Future Interconnection Technology";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli, W. Fallmann; Institut für Festkörperelektronik, 2003.

  123. M. Gritsch:
    "Numerical Modeling of Silicon-on-Insulator MOSFETs";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): H. Kosina, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2002; Rigorosum: 20.12.2002.

  124. J. Ulrich:
    "Long wave length quantum cascade lasers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer; Institut für Festkörperelektronik, 2002.

  125. R. Zobl:
    "Far-Infrared emission from plasmons in semiconductor quantum structures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer; Institut für Festkörperelektronik, 2002.

  126. R. Quay:
    "Analysis and Simulation of High Electron Mobility Transistors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2001; Rigorosum: 18.09.2001.

  127. C. Troger:
    "Modellierung von Quantisierungseffekten in Feldeffekttransistoren";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2001; Rigorosum: 18.06.2001.

  128. R. Bratschitsch:
    "Time resolved THz-spectroscopy of Semiconductor Nano-structures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): K. Unterrainer; Institut für Festkörperelektronik, 2001.

  129. C. Fürböck:
    "Characterization of Semiconductor Power Devices: Laser Interferometry and Failure Analysis";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; Institut für Festkörperelektronik, 2001.

  130. M. Geissler:
    "Interaction of Highpower Ultrashort Laser Pulses with Plasmas";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): T. Brabec, K. Unterrainer; Insitut für Photonik, 2001.

  131. B. Goebel:
    "Vertical N-Channel MOSFETs for Extremely High Density Integration";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Bertagnolli; Institut für Festkörperelektronik, 2001.

  132. P.O. Kellermann:
    "Entwicklung von Halbleiterlasern mit postepitaktischer Adjustierung der Wellenlänge";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; Institut für Festkörperelektronik, 2001.

  133. W. Schrenk:
    "Distributed Feedback Quantum Cascade Lasers";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; Institut für Festkörperelektronik, 2001.

  134. V. Palankovski:
    "Simulation of Heterojunction Bipolar Transistors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 2000; Rigorosum: 12.12.2000.

  135. M. Stockinger:
    "Optimization of Ultra-Low-Power CMOS Transistors";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 2000; Rigorosum: 25.01.2000.

  136. N. Finger:
    "Grating-Coupled Semiconductor Structures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; Institut für Festkörperelektronik, 2000.

  137. S. Gianordoli:
    "Quantum cascade lasers on AlGaAs-GaAs for the mid-infrared regime";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 2000.

  138. R. Heer:
    "Ballistic Electron Emission Spectroscopy on Buried Semiconductor Heterostructures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): J. Smoliner, H. Hauser; E 362, 2000.

  139. L. Hvozdara:
    "Unipolar GaAs/AlGaAs MID-Infrared Lasers for Spectroscopic Applications";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 2000.

  140. T. Maier:
    "Integration von oberflächenemittierenden Laserdioden und resonanten Photodetektoren für interferometrische Messungen";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 2000.

  141. M. Rottinger:
    "Selected Simulations of Semiconductor Structures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1999; Rigorosum: 25.06.1999.

  142. T. Grasser:
    "Mixed-Mode Device Simulation";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1999; Rigorosum: 21.05.1999.

  143. R.M. Escadas Ramos Martins:
    "On the Design of Very Low Power Integrated Circuits";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Bertagnolli; Institut für Mikroelektronik, 1999; Rigorosum: 25.02.1999.

  144. G. Ploner:
    "Quantum Wires - An Investigation of Fabrication and Characterization Techniques";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 1999.

  145. M. Knaipp:
    "Modellierung von Temperatureinflüssen in Halbleiterbauelementen";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998; Rigorosum: 21.10.1998.

  146. G. Schrom:
    "Ultra-Low-Power CMOS Technology";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998; Rigorosum: 07.07.1998.

  147. H. Brech:
    "Optimization of GaAs Based High Electron Mobility Transistors by Numerical Simulation";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1998; Rigorosum: 03.04.1998.

  148. C. Rauch:
    "Ballistic Electron Spectroscopy of Semiconductor Heterostructures";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 1998.

  149. N. Seliger:
    "Characterization of Semiconductor Devices by Laser Interferometry";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 1998.

  150. G. Kaiblinger-Grujin:
    "Physikalische Modellierung und Monte-Carlo-Simulation der Elektronenbeweglichkeit in Silizium";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997; Rigorosum: 13.03.1998.

  151. C. Köpf:
    "Modellierung des Elektronentransports in Verbindungshalbleiterlegierungen";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997; Rigorosum: 16.12.1997.

  152. C. Wasshuber:
    "About Single-Electron Devices and Circuits";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): S. Selberherr, E. Gornik; Institut für Mikroelektronik, 1997; Rigorosum: 18.02.1997.

  153. W. Boxleitner:
    "Bandstruktur und ballistischer Transport in Halbleiter-Heterostrukturen";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 1997.

  154. C. Eder:
    "Rastertunnelmikroskopie an Halbleiter-Nanostrukturen";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 1997.

  155. A. Golshani:
    "Vabrication of Steerable Single Mode Surface Emitting Laser Diodes based on Surface Mode Emission";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 1997.

  156. S. Senkader:
    "Physical Modelling and Simulation of Oxygen Precipitation in Silicon";
    Betreuer/in(nen), Begutachter/in(nen): E. Gornik; E 362, 1996.