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Zeitschriftenartikel:
H. Kosina, G. Kaiblinger-Grujin:
"Ionized-Impurity Scattering of Majority Electrons in Silicon";
Solid-State Electronics, 42 (1998), 3; S. 331 - 338.

"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/S0038-1101(97)00199-8
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_1998/JB1998_Kosina_1.pdf

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.