Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
C. Troger, H. Kosina, S. Selberherr:
"Modeling Nonparabolicity Effects in Silicon Inversion Layers";
Poster: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD),
Cambridge, MA, USA;
08.09.1997
- 10.09.1997; in: "Proceedings of the International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)",
(1997),
ISBN: 0-7803-3775-1;
S. 323
- 326.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/SISPAD.1997.621403
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_1998/CP1997_Troger_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.