Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
G. Schrom, De Vivek, S. Selberherr:
"VLSI Performance Metric Based on Minimum TCAD Simulations";
Vortrag: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD),
Cambridge, MA, USA;
08.09.1997
- 10.09.1997; in: "Proceedings of the International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)",
(1997),
ISBN: 0-7803-3775-1;
S. 25
- 28.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/SISPAD.1997.621327
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_1998/CP1997_Schrom_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.