[Zurück]


Zeitschriftenartikel:

M. Gritsch, H. Kosina, T. Grasser, S. Selberherr:
"Influence of Generation/Recombination Effects in Simulations of Partially Depleted SOI MOSFETs";
Solid-State Electronics, 45 (2001), 5; S. 621 - 627.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/S0038-1101(01)00080-6

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2001/JB2001_Gritsch_1.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.