S. Selberherr:
"MOS Device Modeling at 77K";
IEEE Transactions on Electron Devices, 36 (1989), 8; S. 1464 - 1474.
http://dx.doi.org/10.1109/16.30960Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_1990/JB1989_Selberherr_1.pdf