[Zurück]


Zeitschriftenartikel:

H. Ceric, S. Selberherr:
"Simulative Prediction of the Resistance Change due to Electromigration Induced Void Evolution";
Microelectronics Reliability, 42 (2002), 9-11; S. 1457 - 1460.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/S0026-2714(02)00169-5

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2003/CP2002_Ceric_3.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.