Zeitschriftenartikel:
H. Ceric, S. Selberherr:
"Simulative Prediction of the Resistance Change due to Electromigration Induced Void Evolution";
Microelectronics Reliability,
42
(2002),
9-11;
S. 1457
- 1460.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/S0026-2714(02)00169-5
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2003/CP2002_Ceric_3.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.