[Zurück]


Zeitschriftenartikel:

G. Hobler, S. Selberherr:
"Two-Dimensional Modeling of Ion Implantation Induced Point Defects";
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 7 (1988), 2; S. 174 - 180.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/43.3147

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_1989/JB1988_Hobler_1.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.