Zeitschriftenartikel:
G. Hobler, S. Selberherr:
"Two-Dimensional Modeling of Ion Implantation Induced Point Defects";
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems,
7
(1988),
2;
S. 174
- 180.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/43.3147
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_1989/JB1988_Hobler_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.