Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
R. Deutschmann, C. Fischer, C. Sala, S. Selberherr:
"Evaluation of Effective Device Parameters by Comparison of Measured and Simulated C-V Characteristics for Conventional and Pseudomorphic HEMTs";
Vortrag: International Conference on the Simulation of Semiconductor Devices and Processes (SISDEP),
Wien;
07.09.1993
- 09.09.1993; in: "Proceedings SISDEP 93 Conference",
(1993),
ISBN: 3-211-82504-5;
S. 461
- 464.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-6657-4_114
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_1994/CP1993_Deutschmann_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.