Zeitschriftenartikel:
A. Gehring, F. Jimenez-Molinos, H. Kosina, A. Palma, F. Gamiz, S. Selberherr:
"Modeling of Retention Time Degradation Due to Inelastic Trap-Assisted Tunneling in EEPROM Devices";
Microelectronics Reliability,
43
(2003),
9-11;
S. 1495
- 1500.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/S0026-2714(03)00265-8
Online-Bibliotheks-Katalog der TU Wien:
http://aleph.ub.tuwien.ac.at/F?base=tuw01&func=find-c&ccl_term=AC04403711
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2004/JB2003_Gehring_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.