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Zeitschriftenartikel:

S. Selberherr:
"Process and Device Modeling for VLSI";
Microelectronics Reliability (eingeladen), 24 (1984), 2; S. 225 - 257.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/0026-2714(84)90450-5

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/JB1984_Selberherr_1.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.