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Zeitschriftenartikel:

A. Schütz, S. Selberherr, H. Pötzl:
"Analysis of Breakdown Phenomena in MOSFET's";
IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, CAD-1 (1982), 2; S. 77 - 85.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TCAD.1982.1269997

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/JB1982_Schuetz_2.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.