[Zurück]


Bücher und Buch-Herausgaben:

P. Pichler:
"Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon";
in Buchreihe "Computational Microelectronics", Buchreihen-Herausgeber: S. Selberherr; Springer-Verlag, Wien - New York, 2004, ISBN: 978-3-7091-7204-9, 554 S.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-0597-9

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/books/intrinsic_pointdefects/


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.