Bücher und Buch-Herausgaben:
P. Pichler:
"Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon";
in Buchreihe "Computational Microelectronics",
Buchreihen-Herausgeber: S. Selberherr;
Springer-Verlag, Wien - New York,
2004,
ISBN: 978-3-7091-7204-9,
554 S.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1007/978-3-7091-0597-9
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/books/intrinsic_pointdefects/
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.