Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
A. Gehring, S. Selberherr:
"Modeling of Wearout, Leakage, and Breakdown of Gate Dielectrics";
Vortrag: IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA),
Hsinchu;
05.07.2004
- 08.07.2004; in: "11th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits",
(2004),
ISBN: 0-7803-8454-7;
S. 61
- 64.
Online-Bibliotheks-Katalog der TU Wien:
http://aleph.ub.tuwien.ac.at/F?base=tuw01&func=find-c&ccl_term=AC04967570
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2005/CP2004_Gehring_1.pdf
Zugeordnete Projekte:
Projektleitung Siegfried Selberherr:
SIM
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.