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Zeitschriftenartikel:

T. Ayalew, A. Gehring, T. Grasser, S. Selberherr:
"Enhancement of Breakdown Voltage for Ni-SiC Schottky Diodes Utilizing Field Plate Edge Termination";
Microelectronics Reliability, 44 (2004), 9-11; S. 1473 - 1478.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2004.07.042

Online-Bibliotheks-Katalog der TU Wien:
http://aleph.ub.tuwien.ac.at/F?base=tuw01&func=find-c&ccl_term=AC04967653

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2005/JB2004_Ayalew_1.pdf



Zugeordnete Projekte:
Projektleitung Tibor Grasser:
TCAD Mikroelektronik - Christian Doppler Laboratorium Technologie-CAD in der Mikroelektronik


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.