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Vorträge und Posterpräsentationen (ohne Tagungsband-Eintrag):
A. Gehring, S. Selberherr:
"Statistical Simulation of Gate Dielectric Wearout, Leakage, and Breakdown";
Vortrag: European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Zürich; 04.10.2004 - 08.10.2004.

Zugeordnete Projekte:
Projektleitung Siegfried Selberherr:
SIM

Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.