[Zurück]


Zeitschriftenartikel:

A. Gehring, S. Selberherr:
"Statistical Simulation of Gate Dielectric Wearout, Leakage, and Breakdown";
Microelectronics Reliability, 44 (2004), 9-11; S. 1879 - 1884.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2004.07.101

Online-Bibliotheks-Katalog der TU Wien:
http://aleph.ub.tuwien.ac.at/F?base=tuw01&func=find-c&ccl_term=AC04967672

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2005/JB2004_Gehring_1.pdf



Zugeordnete Projekte:
Projektleitung Siegfried Selberherr:
SIM


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.