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Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):

E. Ungersböck, H. Kosina:
"The Effect of Degeneracy on Electron Transport in Strained Silicon Inversion Layers";
Vortrag: International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD), Tokyo, Japan; 01.09.2005 - 03.09.2005; in: "Proceedings of the International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)", (2005), ISBN: 4-9902762-0-5; S. 311 - 314.



"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/SISPAD.2005.201535

Online-Bibliotheks-Katalog der TU Wien:
http://aleph.ub.tuwien.ac.at/F?base=tuw01&func=find-c&ccl_term=AC05935519

Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2006/CP2005_Ungersboeck_2.pdf


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.