Zeitschriftenartikel:
V. Sverdlov, H. Kosina, S. Selberherr:
"Modeling Current Transport in Ultra-Scaled Field-Effect Transistors";
Microelectronics Reliability (eingeladen),
47
(2006),
1;
S. 11
- 19.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2006.03.009
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2007/JB2006_Sverdlov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.