Editorials in wiss. Zeitschriften:
T. Grasser, S. Selberherr:
"Modelling the Negative Bias Temperature Instability (Editorial)";
Microelectronics Reliability,
47
(2007),
6;
S. 839
- 840.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2006.10.005
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2007/edit2006_Grasser_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.