Vorträge und Posterpräsentationen (mit Tagungsband-Eintrag):
H. Ceric, R. Orio, S. Selberherr:
"Comprehensive Modeling of Electromigration Induced Interconnect Degradation Mechanisms";
Vortrag: International Conference on Microelectronics (MIEL),
Nis (eingeladen);
11.05.2008
- 14.05.2008; in: "Proceedings of the International Conference on Microelectronics (MIEL)",
(2008),
ISBN: 978-1-4244-1881-7;
S. 69
- 76.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/ICMEL.2008.4559225
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2008/CP2008_Ceric_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.