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Zeitschriftenartikel:

M. Stöger-Pollach, C. Hébert, H.W. Zandbergen, P. Schattschneider:
"Thickness dependent loss function of Si with 0.14 eV energy resolution";
Advanced Engineering Materials, 6 (2004), No. 10; S. 826 - 828.



Kurzfassung englisch:
blank

Communication
Thickness Dependent Loss Function of Si with 0.14 eV Energy Resolution
M. Stöger-Pollach *, C. Hebert 1, H.W. Zandbergen 2, P. Schattschneider 1
1Vienna University of Technology, Vienna, Austria
2Delft University of Technology, Delft, The Netherlands
email: M. Stöger-Pollach (stoeger@ustem.tuwien.ac.at)

*Correspondence to M. Stöger-Pollach, 1Vienna University of Technology, Vienna, Austria

Keywords
EELS . Electronic properties . Semiconductors

Abstract
No abstract.


Online-Bibliotheks-Katalog der TU Wien:
http://aleph.ub.tuwien.ac.at/F?base=tuw01&func=find-c&ccl_term=AC04970288

Elektronische Version der Publikation:
http://www3.interscience.wiley.com/cgi-bin/abstract/109746858/ABSTRACT


Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universitšt Wien.