Publikationseintrag

Zeitschriftenartikel:

T. Aichinger, M. Nelhiebel, T. Grasser:
"On the Temperature Dependence of NBTI Recovery";
Microelectronics Reliability, 48 (2008), S. 1178 - 1184.

"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)

http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2008.06.018

Elektronische Version der Publikation:

http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2009/JB2008_Grasser_1.pdf