Zeitschriftenartikel:
W. Gös, M. Karner, V. Sverdlov, T. Grasser:
"Charging and Discharging of Oxide Defects in Reliability Issues";
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability,
8
(2008),
3;
S. 491
- 500.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TDMR.2008.2005247
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2008/JB2008_Goess_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.