Zeitschriftenartikel:
T. Grasser, B. Kaczer:
"Evidence That Two Tightly Coupled Mechanisms Are Responsible for Negative Bias Temperature Instability in Oxynitride MOSFETs";
IEEE Transactions on Electron Devices,
56
(2009),
5;
S. 1056
- 1062.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1109/TED.2009.2015160
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2009/JB2009_Grasser_2.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.