Zeitschriftenartikel:
M. Vexler, N. S. Sokolov, S. M. Suturin, A. Banshchikov, S. E. Tyaginov, T. Grasser:
"Electrical Characterization and Modeling of the Au/CaF2/nSi(111) Sructures with High-Quality Tunnel-Thin Fluoride Layer";
Journal of Applied Physics,
105
(2009),
083716;
S. 1
- 6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1063/1.3110066
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2009/JB2009_Grasser_4.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.