Zeitschriftenartikel:
S. E. Tyaginov, M. Vexler, N. S. Sokolov, S. M. Suturin, A. Banshchikov, T. Grasser, B. Meinerzhagen:
"Determination of Correlation Length for Thickness Fluctuations in Thin Oxide and Fluoride Films";
Journal of Physics D: Applied Physics,
42
(2009),
115307;
S. 1
- 6.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.1088/0022-3727/42/11/115307
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2009/JB2009_Tyaginov_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.