Zeitschriftenartikel:
R. Orio, H. Ceric, S. Selberherr:
"Analysis of Electromigration in Dual-Damascene Interconnect Structures";
Journal Integrated Circuits and Systems,
4
(2009),
2;
S. 67
- 72.
"Offizielle" elektronische Version der Publikation (entsprechend ihrem Digital Object Identifier - DOI)
http://dx.doi.org/10.29292/jics.v4i2.300
Elektronische Version der Publikation:
http://www.iue.tuwien.ac.at/pdf/ib_2009/JB2009_Orio_1.pdf
Erstellt aus der Publikationsdatenbank der Technischen Universität Wien.